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表面势图谱-自然科学领域：

研究人员

陈军宁 尤一龙 姚若河 孙家讹 张莉丽 代月花 李尊朝 柯导明

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多晶硅耗尽 反型层 栅电容 漏电流 围栅 阈值电压 圆柱形围栅 多晶硅

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