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多晶硅电阻图谱-自然科学领域：

研究人员

阮刚 Reinhard　Streiter Thomas　Gessner 肖夏 Thomas　Otto 方华军 温殿忠

相关术语

晶粒间界表面态密度 晶粒数 电阻开关特性 激活能 晶粒平均长度

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