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MOS器件图谱-自然科学领域：

研究人员

刘亿 李冬梅 何野 勾秋静 孙克治 赖宗声 张秀森 皇甫丽英

相关术语

模拟 能带模型 辐照效应 半导体 模拟集成电路 两维分析 硅 阈值电压漂移

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