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GaAsAlAs异质结图谱-自然科学领域：

研究人员

田强 李永平 王亚非 牛智川 姜永超 刘杰 吴正龙 杨锡震

相关术语

CV测量 导带 深能级瞬态谱测量 导带带阶 Si夹层 掺杂浓度 X射线光电子谱测量

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