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忻佩胜图谱-自然科学领域:
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杨震
研究领域
启动电压
插入损耗
芯片粘接剂
表面钝化
静电力驱动
抗反射结构
微光机电系统
加速寿命试验
铝腐蚀失效
毫米波相移器
相位连续可调
封装环境
可调式光衰减器
传输损耗
MEMS
所属机构
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
华东师范大学信息科学技术学院
信息科学技术学院
中国科学院上海技术物理所红外物理国家重点...
上海元件五厂
中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感...
红外物理国家重点实验室上海
传感技术联合开放实验室上海
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