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吴世法图谱-自然科学领域：

相关人员

郭宁 王晓秋 简国树 张庆瑜 都健 刘伟 潘石 姜宇驰

研究领域

Ge2Sb2Te5薄膜 分子损伤和检测 四面锥尖 强度统计微扰 数值模拟光子扫描隧道显微镜 探测场 傅里叶变换 光学特性

所属机构

辽宁大连 江苏常熟 大连理工大学物理系 常熟理工学院物理与电子科学系 大连理工大学物理与光电工程学院 大连理工大学三束材料改性国家重点实验室

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