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缺陷密度图谱-机械领域：

研究人员

许鸿 张云洞 王旭阳 赵汝进 何长涛 马孜 陈建国 张耀平

相关术语

光学薄膜 YbF3薄膜 软件缺陷 缺陷排除 二维最大熵 表面粗糙度 图像分割 遗传算法

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